16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價
賽默飛FEL 部分配件耗材
16830 離子源
4035 273 12631 拔出極
4035 273 6 7441 光(guang)闌
4035 272 35991 抑制極
4035 272 35971 拔出極
1058129 拔出極
1301684 Suppressor 抑制極
1096659 Aperture 光闌
1346158 PT
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的(de)分析 聚焦離子束掃描電(dian)子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統,可為(wei)包括磁性和(he)非導(dao)電(dian)材料(liao)在(zai)內的(de)各種(zhong)樣品提(ti)供出(chu)色的(de)樣品制備與 3D 表征性能 。Scios 2 DualBeam 通過(guo)創新的(de)功能設計提(ti)高了通量(liang)、精度(du)以(yi)(yi)及易用性,是滿(man)足科(ke)學(xue)(xue)家和(he)工程師在(zai)學(xue)(xue)術、政府以(yi)(yi)及工業(ye)研(yan)究領(ling)域高級研(yan)究和(he)分析需求(qiu)的(de)理想解決(jue)方案。
通(tong)常需(xu)要進行(xing)亞表面或三(san)維(wei)表征以更好(hao)地理解(jie)樣(yang)品的結(jie)構(gou)和性質。Scios 2 DualBeam 及(ji)(ji)可(ke)選(xuan)配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟(ruan)(ruan)件可(ke)提(ti)供高質量(liang)、全自動的多(duo)模式 3D 數據集采集,包括用(yong)(yong)于最大材料(liao)對(dui)比度的背散(san)射(she)(she)電(dian)子 (BSE) 成像、用(yong)(yong)于組成信(xin)息的能量(liang)色散(san)光(guang)譜 (EDS) 以(yi)及(ji)(ji)用(yong)(yong)于微觀結構(gou)和晶體學信(xin)息的電(dian)子背散(san)射(she)(she)衍射(she)(she) (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟(ruan)(ruan)件組合使用(yong)(yong)后,Scios 2 DualBeam 可(ke)為納米級的高分辨率、高級 3D 表征以(yi)及(ji)(ji)分析提(ti)供的工作流程解決方案。
創(chuang)新的(de) NICol 電子(zi)色譜(pu)柱為(wei)系統(tong)的(de)(de)高分(fen)辨(bian)率成像和檢(jian)測(ce)能(neng)力提供了(le)基礎。它適用(yong)于(yu)多種工作(zuo)條(tiao)件(jian),無論(lun)是(shi)在 30 keV 的(de)(de) STEM 模(mo)式(shi)下(xia)(訪(fang)問結(jie)構(gou)信息(xi))還是(shi)以(yi)(yi)較低能(neng)量(liang)(獲得(de)無電荷(he)的(de)(de)詳細表(biao)面信息(xi))運行,都可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)提供出色的(de)(de)納(na)米級(ji)(ji)細節。Scios 2 DualBeam 具(ju)有(you)的(de)(de)鏡筒內 Thermo Scientific Trinity 檢(jian)測(ce)系統(tong),專(zhuan)用(yong)于(yu)同時采集角(jiao)和能(neng)量(liang)選(xuan)擇二級(ji)(ji)電子(zi) (SE) 以(yi)(yi)及(ji) BSE 成像數據(ju)。不僅(jin)可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)快(kuai)(kuai)速(su)(su)(su)訪(fang)問從上到下(xia)的(de)(de)詳細納(na)米級(ji)(ji)信息(xi),還可(ke)(ke)(ke)快(kuai)(kuai)速(su)(su)(su)訪(fang)問傾斜的(de)(de)樣品或交叉切(qie)(qie)片(pian)的(de)(de)信息(xi)。可(ke)(ke)(ke)選(xuan)配的(de)(de)透(tou)鏡下(xia)檢(jian)測(ce)器和電子(zi)束減速(su)(su)(su)模(mo)式(shi)可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)快(kuai)(kuai)速(su)(su)(su)、便捷(jie)地同時采集所有(you)信號,揭示材(cai)料(liao)表(biao)面或交叉切(qie)(qie)片(pian)中最(zui)小的(de)(de)特征。具(ju)有(you)全自(zi)動(dong)對齊功(gong)能(neng)的(de)(de) NICol 色譜(pu)柱,可(ke)(ke)(ke)獲得(de)快(kuai)(kuai)速(su)(su)(su)、準確、可(ke)(ke)(ke)重現的(de)(de)結(jie)果。
科學家和(he)工(gong)程師(shi)不斷面臨(lin)新(xin)的(de)挑戰、需要對越來越復雜的(de)樣品(pin)的(de)更小特征進行高(gao)度(du)局部表征。Scios 2 DualBeam 的(de)(de)(de)創新與可(ke)選、易用和(he)全面(mian)的(de)(de)(de) Thermo Scientific AutoTEM 4 軟件以(yi)及賽(sai)默飛(fei)世爾科技的(de)(de)(de)應用專業知識相結(jie)合后,可(ke)支持客戶快速方便地制備(bei)用于多種材料的(de)(de)(de) 自定義(yi)高分(fen)辨(bian)率 S/TEM 樣(yang)品。為了獲得高質(zhi)量(liang)結(jie)果,需要使用低能量(liang)離子進(jin)行(xing)最終拋光,以(yi)盡可(ke)能減(jian)少對樣(yang)品表面(mian)的(de)(de)(de)損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦(jiao)離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具(ju)有(you)高分(fen)辨(bian)率成像和(he)銑削能力,還具(ju)有(you)良好(hao)的(de)(de)(de)低電壓性能,能夠創建高質(zhi)量(liang)的(de)(de)(de) TEM 薄(bo)片。
16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價
主要特點(dian)
快速、便捷的制備
使用 Sidewinder HT 離子柱獲得(de)高質量、現場(chang)特定的 TEM 和原子探針樣品(pin)。
使用在廣(guang)泛的樣品范圍(包括磁性和非導電材料)內具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜(pu)柱。
通過(guo)各種集成式色譜柱內和透鏡下檢(jian)測器獲得清晰、精確(que)和無電荷的對比度(du)。
使用可選配的 AS&V4 軟件(jian),通過精確靶(ba)向感興趣區域來(lai)獲得高質量、多模式(shi)亞表面(mian)和 3D 信息。
高(gao)度靈(ling)活的 110 mm 載物臺和腔室(shi)內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機(ji)允許根據(ju)具體應用需求進行定制。
具有專(zhuan)用模(mo)式(shi),如 DCFI、漂移抑制和(he) Thermo Scientific SmartScan 模式。
靈活(huo)的 DualBeam 配(pei)置,包括可選配(pei)的最高 500 Pa 腔室壓力低真空(kong)模式,可滿(man)足具體的應用要求。
規格
電(dian)子束分(fen)辨(bian)率 | · 最(zui)佳 WD o 在 30 keV STEM 下為 0.7 nm o 在 1 keV 下為 1.4 nm o 在 1 keV(射束減速)下為 1.2 nm |
電子束(shu)參(can)數空間 | · 電子束電流范(fan)圍(wei):1 pA 至 400 nA · 著陸能量范圍:20* eV – 30 keV · 加速電壓范圍:200 V – 30 kV · 最大水平(ping)射(she)野寬度:7 mm WD 時為(wei) 3.0 mm,60 mm WD 時為(wei) 7.0 mm · 可通過標準導航(hang)剪輯提供超寬視野 (1×) |
離子光學系統 | · 加速電壓:500 V – 30 kV · 電(dian)子束電(dian)流范圍:1.5 pA – 65 nA · 15 位置光闌(lan)條 · 漂移抑制(zhi)模式,為非導電(dian)樣品的(de)標準(zhun)模式 · 最小離子源壽命:1,000 小時 · 離子束分辨率:選擇(ze)角方法下 30kV 時為 3.0 nm |
檢測(ce)器 | · Trinity 檢測(ce)系(xi)統(鏡筒內和(he)色譜柱內) o T1 分段式下鏡筒(tong)內(nei)檢測(ce)器(qi) o T2 上鏡筒內(nei)檢測器 o T3 可伸縮色譜柱內檢測器(可選配) o 多達 4 個(ge)同時(shi)檢測的信(xin)號 · Everhart-Thornley SE 檢測(ce)器(qi) (ETD) · 用于二級離子 (SI) 和二級電子(zi) (SE) 的高性能離子(zi)轉換和電子(zi)檢(jian)測器 (ICE)(可選(xuan)配) · 可伸縮、低(di)電壓、高對(dui)比度、分段式、固態反向(xiang)散射電子(zi)檢(jian)測器 (DBS)(可選配) · 帶 BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測(ce)器(可選(xuan)配) · 查看(kan)樣品和(he)腔室的 IR 攝像機 · 腔室(shi)內(nei) Nav-Cam 樣品導(dao)航攝像機(可選配) · 集(ji)成的(de)光束(shu)電流(liu)測(ce)量(liang) |
載物(wu)臺和樣品 | 靈(ling)活的(de) 5 軸電動平臺: · XY 范圍:110 mm · Z 范(fan)圍:65 mm · 旋轉:360°(無限) · 傾(qing)斜范圍(wei):-15° 至 +90° · XY 重復(fu)性:3 μm · 最大(da)樣品(pin)高(gao)度:與(yu)共心點間距 85 mm · 0° 傾斜(xie)時的最大樣品重量:5 kg (包(bao)括樣品架) · 最(zui)大(da)樣(yang)品尺寸:*旋轉時 110 mm(也可以(yi)是更大的樣品,但旋轉有限) · 計算中心旋轉和傾斜(xie) |
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